壓敏_源林電子(在線(xiàn)咨詢(xún))_14D561壓敏：

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電容量C0

壓敏電阻在導(dǎo)通前的電阻值很大，可視為電介質(zhì)材料，兩個(gè)電極之間存在著pF級(jí)的電容在工頻下，如此之小的電容對(duì)被保護(hù)電路的正常工作幾乎沒(méi)有任何影響，但在高頻或數(shù)字線(xiàn)路中，如不考慮壓敏電阻的電容量，有時(shí)會(huì)造成信號(hào)失真或產(chǎn)生諧振。因此生產(chǎn)廠家應(yīng)向用戶(hù)提供壓敏電阻的電容量參考數(shù)據(jù)（一般以峰值或典型值的方式），以便用戶(hù)設(shè)計(jì)電路時(shí)參考。

源林電子是一家專(zhuān)業(yè)研發(fā)、生產(chǎn)壓敏電阻的高科技電子元器件企業(yè)。主營(yíng)壓敏電阻、熱敏電阻和溫度傳感器，自有研發(fā)團(tuán)隊(duì)，廠家直銷(xiāo)！

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老化機(jī)理：

曾經(jīng)被認(rèn)為是老化的起因的有電子陷阱，偶極子轉(zhuǎn)向，氧脫附和離子遷移，目前能證實(shí)的只有填隙鋅離子遷移。一般認(rèn)為老化是晶界現(xiàn)象，是由于耗盡層內(nèi)離子遷移，而Zni是主要的遷移離子。

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壓敏電阻沖擊電流作用下的老化機(jī)理

沖擊電流作用下主要是熱老化。能量迅速注入電阻片，溫度升高很多，使離子的能量大為增加，遷移力增大，使反偏壓側(cè)的Zni，Bi3+等向晶界遷移。

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